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CMXdlCMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多層厚度(基體和涂層)測厚儀

CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多層厚度(基體和涂層)測厚儀

型    號: CMXdl
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上海洪富儀器儀表有限公司CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多層厚度(基體和涂層)測厚儀

  • 產品描述

上海洪富儀器儀表有限公司CMXdl+,CMXdl+ ,CMXdl+超小型多層厚度(基體和涂層)測厚儀

CMX系列超小型多層厚度(基體和涂層)測厚儀
 

◎      多種測量方式:

模式一:僅測量基體厚度

模式二:僅測量涂層厚度

模式三:同時測量基體和涂層的厚度

 

◎      多種顯示模式
1. 數字式顯示
2. B掃描顯示
3. A掃描顯示(僅CMX DL+

◎      增益可調節:超低、低、中、高、超高

◎      增益值zui高可到110dB

◎      自動增益控制(AGC)

◎      時間增益校正(TCG)

◎      探頭自動識別,自動調零和溫度補償

◎      數據存貯:可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數

◎      可存儲64個用戶參數設置

◎      高速掃查(50次/秒)

◎      高達140HZ的脈沖重復頻率

◎      B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀

◎      A掃描波形顯示和RF顯示(CMXDL+

◎     差值測量模式

◎     高速掃查功能可用于快速找到壁厚的zui小值

◎     上/下限聲光報警功能

◎     zui大值、zui小值顯示

◎     可通過軟件與計算***進行數據交換,方便用戶打印檢測報告

 

 

性能參數

鍵    盤:12鍵按鍵

測量范圍:界面波-底波(P-E)方式:  0.63-508mm
               帶自動溫度補償的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
               多層測量(PECT)方式:  0.63-508mm(基體) 0.01-2.54mm(表面涂層)   

               穿透涂層測量(E-E)模式:  2.54­—102mm(因涂層的不同會有所變化)

               僅測量涂層(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂層的不同會有所變化)

顯示精度:0.01mm(可方便的進行公制和英制的轉換)

聲速范圍:1250-13995m/s

工作溫度:-10℃—60℃

探頭類型:1—10MHZ雙晶探頭

探頭接口:LEMO“00”,可以使用MX、MMX系列測厚儀的探頭

通訊接口:RS232接口(配備USB轉RS232接頭)

電池工作時間:150小時(3節5號堿性電池)100小時(3節5號鎳鎘電池)

省電功能:5分鐘無任何操作后能自動關***

顯 示 屏:62╳45.7mm(240 X 160像素),大數字厚度值顯示(厚度值數字高度可達17.78mm)

外觀尺寸:63.5X165X31.5MM

重量:382克

外殼:合金外殼

主機質保兩年

聯系人:劉浩宇
手機
13524456758
電話
86-021-56374192,56615309
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